工業用セラミックス製造・販売 セラミックメーカーのNPC西村陶業
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Home > セラミックス製造工程・設備 > 分析評価

分析評価

製造工程 製造技術 設備紹介 分析評価

素材の分析や性能評価には高度な専門知識と高価な設備が必要です。お客さまの要求される精度、表面粗さ、平行度、平面度などを満足していただくため、各種評価用の測定装置を導入しています。

画像寸法測定器 画像寸法測定器

大きさ、穴径、角度、穴ピッチ、段差など対象物を置いて、ボタンを押すだけで最大300箇所・対象物100個を正確かつ同時に測定・判定出来ます。測定結果の統計分析も可能です。ノギス、マイクロメーターなどの測定誤差が無くなります。

3Dスキャナ型三次元測定器 3Dスキャナ型三次元測定器

非接触で複雑な3D形状をスキャンし、測定できます。簡単な操作性、非接触での測定、CADとの連携性が特徴。CADデータとの比較、スキャンしたデータのCAD変換・STEPファイルの出力等が可能です。非接触なので、たとえば接触による荷重がない状態でのソリや平面度の測定等にも対応できます。

3D形状測定機 3D形状測定機

高さ(表面の凹凸)方向を非接触で計測。
主な測定項目:3D画像(面のうねり)、プロフィール(断面形状)、線粗さ(Ra等)、表面粗さ(Sa等)、平面計測

三次元座標測定器 三次元座標測定器(CMM)

長さ、高さ、穴径、平面度、Rの大きさ等を0.1μm単位で自動測定出来ます。

測定範囲:W850×D1000×H600

デジタルマイクロスコープ デジタルマイクロスコープ

観察・計測・撮影などをより正確かつスピーディーに操作できます。
二次元だけでなく三次元の観察も可能。
最大5000倍までの観察が可能です。

粒度分布測定装置 粒度分布測定装置

レーザー光による回折・散乱光の強度分布パターンから粒子径分布を算出します。

平均粒子径が50nm~2mmのものまでの測定が可能です。

CNC画像測定装置
                          

 輪郭形状測定

大きさ、穴径、角度、穴ピッチ、段差など
μm単位で自動測定出来ます

表面粗さ測定器

表面粗さ測定
表面の粗さを0.001μm単位で測定出来ます。穴の内面、溝の底面も可能です。
セラミック定盤・直角度測定器他

直角度測定
1μm単位で測定出来ます。

電気マイクロメーター

微小比較測定
0.1μm単位で測定出来ます。
平面度、平行度の測定などに利用します。

レーザースキャンマイクロメーター レーザースキャンマイクロメーター

精度の高い外径測定
0.1μm単位での測定が出来ます。
1本の中のバラツキなどが管理しやすい
ピストンなど外径精度の厳しい製品の測定に使用します。

設備紹介はこちら

公的試験研究機関との連携

走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡
((地独)京都市産業技術研究所)

弊社では、蛍光X線分析装置、熱分析装置、熱伝導率測定装置、X線回折装置、走査電子顕微鏡等による評価については主として地方独立行政法人京都市産業技術研究所(http://tc-kyoto.or.jp/)において実施しています。また、弊社社員の技術力アップのための社員派遣や共同研究等を実施しています。
一方、ファインセラミックスのJISに基く専門的な試験に関しては、一般財団法人ファインセラミックスセンター(名古屋市,http://www.jfcc.or.jp/)等の公的試験研究機関に依頼しています。

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